JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起,實現了高度穩定性和高分辨率,以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單,按照該菜單,操作人員即使不直接操作設備也能采集到數據。
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品,該設備在性能上有了進一步的提高,無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。
JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場發射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡,專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品,可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。
JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡,可以在不向樣品施加強磁場的情況下實現高分辨率觀察。結合高次像差校正器,可以實現原子級分辨率成像。
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