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集成電路高溫老化箱可對(duì)各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號(hào)源信號(hào)進(jìn)行高溫工作壽命試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)老煉篩選。

單根線燃燒試驗(yàn)儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T18380.11、GB/T18380.12、GB/T18380.13、IEC60332-1-1、IEC60332-1-2、IEC60332-1-3以及客戶定制要求設(shè)計(jì)制作，用于對(duì)單根電線電纜或光纜產(chǎn)品進(jìn)行垂直燃燒試驗(yàn)，測(cè)定其絕緣材料的燃燒特性。

日曬色牢度試驗(yàn)箱Q-SUN Xe-2美國Q-LABQ-SUN Xe-2日曬色牢度試驗(yàn)箱易于安裝，操作簡便并易于維護(hù)。設(shè)計(jì)的樣品架使得樣品安裝更簡單。全自動(dòng)Xe-2日曬色牢度試驗(yàn)箱可以連續(xù)運(yùn)行24小時(shí)/天，7天/周，其他功能包括： - 全自動(dòng)輻照強(qiáng)度控制， - 全自動(dòng)輻照度校正，無需使用標(biāo)準(zhǔn)燈管，無需人工校正

SIM6300臭氧老化試驗(yàn)箱德國ANSEROS安索羅斯 SIM系列產(chǎn)品，全面覆蓋全球臭氧老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。免費(fèi)提供行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)解讀和上門技術(shù)培訓(xùn)。

循環(huán)鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱Q-FOG美國Q-LAB可用于測(cè)試產(chǎn)品的在鹽霧環(huán)境中的耐鹽霧腐蝕的情況,主要有SSP/CCT/CRH 3個(gè)不同系列。歡迎致電咨詢循環(huán)鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱。

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