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致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測(cè)試儀產(chǎn)品特色： ●測(cè)試參數(shù):Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q ●測(cè)試頻率:100kHz~300MHz ●量測(cè)范圍:100mΩ~5kΩ ●量測(cè)速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

Tektronix泰克S530/S540 /S500參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時(shí)利 S530 系列參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應(yīng)用的出現(xiàn)和需求變化而不斷發(fā)展。S530 可進(jìn)行高達(dá) 200 V 的測(cè)試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進(jìn)行高達(dá) 1100 V 的測(cè)試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。

吉時(shí)利Keithley4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測(cè)試 (I-V曲線測(cè)試)、電容-電壓曲線測(cè)試 (C-V曲線測(cè)試) 和超快脈沖 I-V曲線測(cè)量。

LET-SP802功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款測(cè)量與分析功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導(dǎo)體器件提供靜態(tài)參數(shù)測(cè)量解決方案。LET-SP802半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量、分析功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù)。

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢(shì): 1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計(jì)算出參數(shù) 2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的 測(cè)試難點(diǎn) 3. 高帶寬的電壓和電流探測(cè)，彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對(duì)SIC/GAN的測(cè)量要求

LET-5000半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款測(cè)量與分析功率靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態(tài)參數(shù)測(cè)量解決方案。