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QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī) 實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，滿足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。 本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導(dǎo)體器件提供全套功率測(cè)試解決方案，可高效實(shí)現(xiàn)從晶圓級(jí)到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測(cè)試，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，并配置豐富的測(cè)試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。

QTJT650010000F功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 是一款針對(duì)高電壓、大電流功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試開(kāi)發(fā)的綜合測(cè)試系統(tǒng)，集成信號(hào)發(fā)生器、高壓直流電源、測(cè)試主回路、 高壓保護(hù)模組、測(cè)試夾具、溫控系統(tǒng)、測(cè)量系統(tǒng)、人機(jī)交互界面，支持 6500V 以下電壓等級(jí)功率半導(dǎo)體器件測(cè)試，最高脈沖電流可達(dá) 10000A。

PM-750 動(dòng)力及電力儲(chǔ)能電池測(cè)試及模擬系統(tǒng)應(yīng)用于各種新能源電池包、模組、單體的性能壽命容量，工況等測(cè)試，動(dòng)力電池（l鋰電池、鎳氫、鉛酸、超級(jí)電容、燃料電池等）標(biāo)準(zhǔn)及工況測(cè)試，儲(chǔ)能電池（鋰電池、鎳氫、鉛酸、鈉硫、液流電池等 ）標(biāo)準(zhǔn)及工況測(cè)試，可定制和編程以模擬電池的電氣特性，作為輸出恒電壓源以及帶數(shù)學(xué)模型的恒壓源用于電機(jī)測(cè)試平臺(tái)。

BMS電池芯仿真模擬系統(tǒng)SS7081-50是一款12路電池電池片電壓發(fā)生器，可提供電源，電子負(fù)載和DMM功能集成在一個(gè)軟件包中。該系統(tǒng)的簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)使構(gòu)建BMS功能驗(yàn)證環(huán)境比以往任何時(shí)候都更安全、更經(jīng)濟(jì)、更有效率，輕松、安全地構(gòu)建高度精確的BMS*驗(yàn)證環(huán)境（*BMS：電池管理系統(tǒng)），作為電壓發(fā)生器或模擬電池代替實(shí)際電池和電源，建立高效的測(cè)試環(huán)境。

遠(yuǎn)方BBMS-4000空間透反射分布測(cè)試系統(tǒng) 可分析測(cè)量材料表面的反射、透射特性，可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、總反射（TIR）、總散射（TIS）等，特別適合手機(jī)屏、雷達(dá)視窗、光學(xué)膜材、特種鍍層、涂層、紙張、玻璃、異形鋁材、塑膠等材料表面光學(xué)特性的定量分析。系統(tǒng)可以可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)BSDF文件至Tracepro、Zemax等

遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng) BBMS-3000雙向反射透射空間分布測(cè)量系統(tǒng)可分析測(cè)量材料的反射、透射空間分布特性。可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、總反射（TIR）、總散射（TIS）等，系統(tǒng)可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)文件至lighttools、Tracepro、Zemax、Speos等光學(xué)軟件中，用于輔助光學(xué)材料或系統(tǒng)的模擬、

聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng)，一個(gè)針對(duì)第三代半導(dǎo)體芯片可靠性測(cè)試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗(yàn)。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導(dǎo)體兩大行業(yè)通過(guò)大量認(rèn)證，是一個(gè)可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。

聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開(kāi)發(fā)的。